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トランジスタ一差働増幅器を用いた2線式計算機回路安冨祖, 忠信; Afuso, Chushin1-Dec-1962
Si-doped GaAs単結晶の転位の上昇と二次元欠陥 -X線トポグラフィーによる観測-前濱, 剛廣; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Afuso, ChushinMar-1986
気相エピタキシャル成長GaAsの表面模様と結晶欠陥との対応前濱, 剛廣; 中西, 英俊; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Nakanishi, Hidetoshi; Afuso, ChushinMar-1987
X線2面入射法による結晶面傾斜角およびX線屈折率の測定前濱, 剛廣; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takwhiro; Afuso, ChushinSep-1988
バイメタルモデルによる基板エピタキシャル層間格子定数差の測定前濱, 剛廣; 宮里, 博明; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Miyazato, Hiroaki; Afuso, ChushinSep-1989
変形バイメタルモデルによる拡散不純物表面濃度の決定前濱, 剛廣; 宮里, 博明; 宮城, 洋一郎; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Miyasato, Hiroaki; Miyagi, Yoichiro; Afuso, ChushinMar-1990
X線二結晶法によるSiO_2-GaAs基板の反りの曲線分布の測定前濱, 剛廣; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Afuso, ChushinSep-1991
熱フィラメントCVD法によるダイヤモンド薄膜の合成とその評価宮城, 光秀; 新垣, 学; 比嘉, 晃; 渡久地, 實; 安冨祖, 忠信; Miyagi, Mitsuhide; Arakaki, Manabu; Higa, Akira; Toguchi, Minoru; Afuso, ChushinSep-1993
X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪の測定前濱, 剛廣; 新里, 樹; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Shinzato, Itsuki; Afuso, ChusinMar-1994
X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪分布の測定前濱, 剛廣; 新里, 樹; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Shinzato, Itsuki; Afuso, Chusin1-Sep-1994
CCDカメラで取り込んだ文字画像の二値化に関する研究長嶺, 銀河; 山城, 毅; 安冨祖, 忠信; Nagamine, Ginga; Yamashiro, Tsuyoshi; Afuso, ChushinSep-1997

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