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Items for Author "Maehama, Takehiro"
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| 転位線のエッチング速度 | 前浜, 剛廣; Maehama, Takehiro; 前濱, 剛廣 | Sep-1982 |
| Si-doped GaAs単結晶の転位の上昇と二次元欠陥 －エッチング法による観測－ | 前濱, 剛廣; Maehama, Takehiro | Oct-1984 |
| Si-doped GaAs単結晶の転位の上昇と二次元欠陥 －X線トポグラフィーによる観測－ | 前濱, 剛廣; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Afuso, Chushin | Mar-1986 |
| 気相エピタキシャル成長GaAsの表面模様と結晶欠陥との対応 | 前濱, 剛廣; 中西, 英俊; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Nakanishi, Hidetoshi; Afuso, Chushin | Mar-1987 |
| バイメタルモデルによる基板エピタキシャル層間格子定数差の測定 | 前濱, 剛廣; 宮里, 博明; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Miyazato, Hiroaki; Afuso, Chushin | Sep-1989 |
| 変形バイメタルモデルによる拡散不純物表面濃度の決定 | 前濱, 剛廣; 宮里, 博明; 宮城, 洋一郎; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Miyasato, Hiroaki; Miyagi, Yoichiro; Afuso, Chushin | Mar-1990 |
| X線二結晶法によるSiO_2-GaAs基板の反りの曲線分布の測定 | 前濱, 剛廣; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Afuso, Chushin | Sep-1991 |
| X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪の測定 | 前濱, 剛廣; 新里, 樹; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Shinzato, Itsuki; Afuso, Chusin | Mar-1994 |
| X線二結晶法によるストライプ状SiO_2/GaAs基板の格子歪分布の測定 | 前濱, 剛廣; 新里, 樹; 安冨祖, 忠信; Maehama, Takehiro; Shinzato, Itsuki; Afuso, Chusin | 1-Sep-1994 |
| 多孔質シリコン3次元周期構造作製その構造･特性評価 | 前濱, 剛廣; 比嘉, 晃; 曽根川, 富博; Maehama, Takehiro; Higa, Akira; Sonegawa, Tomihiro | May-2004 |
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